Penambahbaikan liputan ujian scan dengan menggunakan konfigurasi peralatan penjanaan corak ujian automatik (ATPG) dikaji. Meningkatkan liputan ujian adalah penting dalam mengesan kerosakan pengilangan dalam industri semikonduktor supaya produk yang berkualiti tinggi boleh dibekalkan kepada pengguna. Peralatan ATPG yang digunakan adalah Mentor Graphics Tessent TestKompress (versi 2014.1). Kajian ini telah dilakukan dengan memperkenalkan beberapa eksperimen menggunakan pengubahsuaian terhadap arahan dan suis ATPG, memerhatikan peningkatan liputan ujian dari laporan statistik yang dibekalkan semasa proses penjanaan corak ujian dan menyediakan perbincangan yang berkaitan. Dengan pengubahsuaian arahan ATPG, dijangka liputan ujian akan meningkat. Corak ujian scan yang dijana adalah corak ujian stuck-at. Berdasarkan eksperimen yang telah dilakukan, perbandingan telah dibuat pada bacaan liputan yang berbeza dan kaedah yang paling optimum dan aliran ATPG telah ditentukan. Aliran paling optimum telah memberi peningkatan 0.91% dalam liputan ujian. Corak ujian yang dihasilkan telah ditukar dan diuji menggunakan peralatan ujian automatik (ATE) untuk memerhati prestasinya pada silikon sebenar. Peningkatan liputan ujian menggunakan peralatan ATPG dan bukannya kaedah berasaskan reka bentuk adalah penting sebagai penyelesaian alternatif yang lebih cepat bagi jurutera ujian untuk menyediakan kandungan ujian berkualiti tinggi dalam tempoh pembangunan produk yang singkat.
The scan test coverage improvement by using automatic test pattern generation (ATPG) tool configuration was investigated. Improving the test coverage is essential in detecting manufacturing defects in semiconductor industry so that high quality products can be supplied to consumers. The ATPG tool used was Mentor Graphics Tessent TestKompress (version 2014.1). The study was done by setting up a few experiments of utilizing and modifying ATPG commands and switches, observing the test coverage improvement from the statistical reports provided during pattern generation process and providing relatable discussions. By modifying the ATPG commands, it can be expected to have some improvement in the test coverage. The scan test patterns generated were stuck-at test patterns. Based on the experiments done, comparison was made on the different coverage readings and the most optimized method and flow of ATPG were determined. The most optimized flow gave an improvement of 0.91% in test coverage which is acceptable since this method does not involve a change in design. The test patterns generated were converted and tested using automatic test equipment (ATE) to observe its performance on real silicon. The test coverage improvement using ATPG tool instead of the design-based method is important as a faster workaround for back-end engineers to provide high quality test contents in such a short product development duration.
Scan test coverage improvement via automatic test pattern generation (atpg) tool configuration_ Muhammad Redzwan Bin Salehuddin_E3_2017_MFAR