(For USM Staff/Student Only)

EngLib USM > Ω School of Electrical & Electronic Engineering >

S-parameters, noise and linearity on-chip measurement of a single-ended low noise amplifier / Tse Tuck Wah

S-PARAMETERS, NOISE AND LINEARITY ON-CHIP MEASUREMENT OF A SINGLE-ENDED LOW NOISE AMPLIFIER_Tse Tuck Wah_E3_2008_875002400_NI
Memang tidak boleh dinafikan bahawa penguat hingar rendah memainkan peranan penting dalam bidang komunikasi pada zaman yang serba moden ini. Ia berfungsi menambahkan kekuatan isyarat yang diterima pada antena sesuatu sistem. Penguat hingar rendah adalah penting kerana ia boleh menguatkan isyarat yang amat rendah tanpa menambahkan hingar yang tidak dikehendaki kepada isyarat tersebut. Ini membolehkan nisbah isyarat kepada hingar sesuatu sistem dikekalkan pada tahap yang amat rendah. Ia adalah amat penting untuk seseorang jurutera untuk memahami cara penguat hingar rendah berfungsi sebelum dia boleh mengaplikasikan penguat itu dalam rekabentuk litar. Objektif projek ini adalah untuk mengukur parameter-parameter penting untuk penguat bunyi rendah dalam bentuk “die”. Alat-alat pengukuran yang digunakan adalah seperti penganalisis rangkaian, penganalisis parameter dan penganalisis spektrum. Keputusan pengukuran dibandingkan dengan keputusan penyelakuan dan analisis dibuat berdasarkan keputusan ini. Keputusan menunjukkan bahawa bukan semua keputusan pengukuran sama dengan keputusan penyelakuan. Sesetengah “die” tidak dipadankan dengan betul kerana sesetengah litar padanan tidak dibuat atas cip. Ini bermakna PCB perlu disediakan untuk “die” ini sebelum perngukuran dibuat. Angka hingar keseluruhan untuk sesuatu “die” dibuktikan boleh dikurangkan dengan menambahkan satu lagi pemuat di bahagian masukan “die”. Ujian kelelurusan dibuat pada kali pertama. Oleh itu, hanya 2 “die” diukur untuk mendapatkan data kelelurusan mereka. Pengukuran menunjukkan keputusan yang positif untuk salah satu “die” itu. Ini membuktikan bahawa litar ujian untuk kelelurusan yang dicadangkan adalah betul memandangkan sumbangan utama dalam projek ini ialah ujian kelelurusan_ It is a known fact that low noise amplifiers play a huge part in today’s communication system by providing amplification of the signal received at the system’s antenna. They are important in the receiver design where their main function is to amplify extremely low signals without adding noise. This will maintain the required signal to noise ratio of the system at extremely low power levels. It is important for an engineer to understand the parameters of a low noise amplifier before being able to modify the amplifier to suit a particular application. This project involves die measurement of the performance metrics of a single-ended low noise amplifier. These performance metrics include S-Parameters, noise, linearity and also DC performance. The measurements were conducted in the CEDEC laboratory. The equipments used for measurement include the network analyzer, parameter analyzer and spectrum analyzers together with the corresponding proposed test setups. The measurement results are compared with the simulation results and an analysis is done based on the outcome. The results show that not all of the measurement results agree with the expected simulation results. Some of the dies are not matched properly as some of the matching circuits are not designed on-chip and this implies that a PCB needs to be prepared for this die before it can be measured. It is proven that the overall noise figure of a die can be reduced by adding an extra capacitor at the input of the die. The linearity test is done for the first time. So, only 2 dies are measured for their linearity data. The measurement shows positive results for one of the die and this proves that the linearity test setup that was proposed in this project is correct, since the main contribution in this project is the linearity test.
Contributor(s):
Tse Tuck Wah - Author
Primary Item Type:
Final Year Project
Identifiers:
Accession Number : 875002400
Language:
English
Subject Keywords:
low noise amplifiers ; S-Parameters; spectrum analyzers
First presented to the public:
1/5/2008
Original Publication Date:
1/29/2018
Previously Published By:
Universiti Sains Malaysia
Place Of Publication:
School of Electrical & Electronic Engineering
Citation:
Extents:
Number of Pages - 109
License Grantor / Date Granted:
  / ( View License )
Date Deposited
2018-01-29 14:52:49.847
Date Last Updated
2019-01-07 11:24:32.9118
Submitter:
Nor Hayati Ismail

All Versions

Thumbnail Name Version Created Date
S-parameters, noise and linearity on-chip measurement of a single-ended low noise amplifier / Tse Tuck Wah1 2018-01-29 14:52:49.847