Pengujian memori amat penting dalam perkembangan pantas teknologi bagi sistem dalam cip. Ini disebabkan oleh peningkatan memori kapasiti dalam rekaan cip yang semakin kecil, kompleks dan berkuasa rendah. Masa pengujian untuk memori dalam cip merupakan satu cabaran yang hebat untuk mencapai produk yang berkualiti tinggi dan kos rendah dalam masa ke pasaran yang singkat. Pengurangan masa pengujian untuk memori
amat penting kerana kos pengeluaran dalam industri amat bergantung pada masa pengujian produk dalam mesin. Terdapat banyak algoritma yang boleh digunakan untuk menguji memori, termasuk lajur “gallop” (GalCol). GalCol merupakan algoritma yang penting untuk mengesan kecacatan gandingan dan peralihan yang unik. Namun demikian, algoritma GalCol asal memakan masa pengujian yang lama. Algorithma pengurangan
lajur “gallop” dibangunkan untuk mempercepatkan masa pengujian memori. Algorithma pengurangan GalCol mempunyai ciri ciri algoritma yang sama dengan GalCol asal. Perbezaan ketara dalam pendekatan algoritma pengurangan GalCol adalah pengurangan bilangan pergerakan sel sasaran. Pergerakan sel sasaran dihadkan pada 8, 16 dan 32 sel untuk setiap sel asas. Projek ini melibatkan dua peringkat, iaitu pembangunan perisian
menggunakan perisian INTEL dan Synopsys dan pembangunan algoritma pengurangan GalCol dalam process pengeluaran milik INTEL. Memori L2 SRAM bersaiz 64KB dalam 15 cip telah diuji dengan algoritma pengurangan GalCol. GalCol X8 algoritma mencapai pengurangan masa pengujian memori yang tertinggi, iaitu sebanyak 79.5% dan 75.7% pada frekuensi 600MHz dan 1.6GHz dan ketepatan hasil yang selaras dengan GalCol asal.
________________________________________________________________________________________
Memory testing is significantly important nowadays especially in SOC’s design, due to their rapid growth in the memory density and design complexity in smaller chip area and low power design. Thus, test time in memory testing is a key challenge to accelerate time to market, high yield and low test cost in high volume manufacturing. Test time reduction in memory testing is important in industry, as test cost is directly related to
validation time of each product on the tester. There are lots of memory algorithms used for memory testing, including the galloping column algorithm (GalCol). The GalCol algorithm test is important to detect unique coupling and transition faults. However, the existing GalCol algorithm takes huge test time due to its test complexity. To overcome the test time issue in industry, reduced GalCol algorithms with solid data background are proposed. The reduced GalCol algoritms have similar test behavior as original GalCol algorithm with major difference in the number of galloping of the target cells. The galloping of target cells are reduced to first and last 8, 16 and 32 of cells of every base cell. This project is progressed in two stages, which are the software development using INTEL software and Synopsys tool and test implementation on INTEL production flow.
These algorithm are verified on 15 units of 64KB L2 SRAM memory. In this project, test time reduction and consistent pass fail test results are achieved in the reduced GalCol algorithm tests. The GalCol X8 algorithm obtains the highest test time reduction of about 79.5% at 600MHz and 75.7% at 1.6GHz with consistent pass or fail test results comparable to original GalCol algorithm in the HVM test flow.
Reduced galloping column algorithm for memory testing_Ngieng Siew Ching_E3_2015_875005932_NI