Dalam aplikasi frekuensi rendah, hingar menjadi isu apabila saiz MOS
dikurangkan. Oleh itu, hingar kerlipan dan hingar haba adalah salah satu isu yang
terdapat dalam aplikasi frekuensi rendah . Dalam projek ini, hingar kerlipan dan hingar
haba diukur pada litar sampel-dan-pegang, yang direka berdasarkan sepenuhnya
dengan litar Cascode Pengamiran Sepenuh dengan Mod Suapbalik. Analysis hingar
haba dan hingar kerlipan juga dijalankan dengan mengubah nilai kapasitor dan saiz
transistor dalam litar sampel-dan-pegang. Dalam analisis hingar haba, SNR
maksimum yang diukur adalah -120.28dB dengan 0.642uV/√Hz hingar haba masuk
dan saiz transistor yang digunakan pada NMOS adalah 8μm . Selain itu, SNR
maksimum yang diperolehi bagi hingar kerlipan adalah -83.27dB untuk hingar masuk
1uA dengan kapasitor nilai 0.5pF yang diukur pada frekuensi 1Hz dalam litar sampeldan
tegang.
_______________________________________________________________________
In low-frequency applications, noise is becoming more of an issue as the MOS
size reduced. Therefore, the flicker noise and thermal noise are one of the issues found
in low-frequency applications. In this work, the thermal noise and flicker noise are
modelled and measured on the sample-and-hold circuit, based on Fully Differential
Folded Cascode with Common Mode Feedback. The thermal noise analysis and flicker
noise analysis are performed by varying the capacitance value and transistor sizes in
the sample-and-hold circuit. In thermal noise analysis, the maximum output SNR
measured is -120.28dB with 0.642uV/√Hz input thermal noise and transistor size for
NMOS is set to 8μm. The maximum output SNR obtained for flicker noise is -83.27dB
for 1uA input noise with low capacitance value 0.5pF and is measured at 1Hz
frequency in sample-and-hold circuit.
Thermal and flicker noise analysis in sample and hold circuit_Balamurali Maniam_E3_2015_MYMY