Pengujian litar bersepadu diperlukan untuk memastikan kebolehpercayaan produk
elektronik, dan pilihan ujian popular dalam industri adalah mengembangkan program
uji pada peralatan ujian automatik V93K. Peranti dalam ujian ialah TLV320AIC10
Codec Suara. Ruang memori vektor dalam kad ujian digital adalah terhad. Jika ujian
memerlukan banyak vektor dalam corak, pin satu port mungkin guna lebih banyak
memori untuk vektor mereka daripada apa yang tersedia secara fizikal. Oleh itu, projek
ini bertujuan untuk mengembangkan program uji dua tapak V93K untuk codec suara
dan mengurangkan memori vektor menggunakan fungsi Multiport dalam V93K.
Selepas pemahaman mengenai datasheet peranti dan V93K, papan DUT dan juga 20
ujian telah direka untuk menguji beberapa bahagian codec suara. Ujian ini adalah
kesinambungan, kebocoran input, fungsi, bekalan arus, voltan keluaran VMID,
frekuensi, distorsi DAC dan ADC. Multiport dilaksanakan dalam ujian fungsi dan
frekuensi. Keputusan menunjukkan kedua-dua tapak 1 dan tapak 2 peranti melepasi
kesemua 20 ujian. Jumlah masa pelaksanaan ialah 0.652 saat. Ujian isyarat bercampur
mengambil masa yang paling lama (39% daripada jumlah keseluruhan) kerana ujian
ini memerlukan masa persediaan. Mereka melibatkan lebih banyak sumber peralatan
daripada ujian lain. Berbanding dengan aliran ujian normal, aliran ujian Multiport
mengurangkan 71% memori vektor dalam ujian Fungsi (N = 32) dan 40% dalam ujian
Fungsi (N = 4). Kesimpulannya, penggunaan Multiport menyumbang dari segi memori
corak. Ini berfaedah untuk ujian yang mengandungi banyak vektor dalam corak.
Pengurangan memori vektor yang ketara akan menyebabkan masa ujian yang lebih
pendek dan kos ujian yang lebih rendah secara keseluruhan.
_______________________________________________________________________________________________________
Integrated circuit (IC) testing is necessary to ensure reliability of electronic products,
and a popular IC testing option in the industry is developing test solution on the V93K
automated test equipment (ATE). Device Under Test (DUT) is the TLV320AIC10
Audio Codec. Digital test cards have limited storage of vector memory. If the test
requires large amount of vector in pattern, the pins of one port may need more memory
for their vectors than what is physically available. Therefore, this project aims to
develop a V93K dual sites test solution for audio codec and reduce vector memory
using Multiport Feature of the V93K. After thorough understanding of the device’s
datasheet and V93K ATE, DUT board is designed and fabricated. Then, 20 tests are
designed to test different parts of the audio codec. These tests are continuity, input
leakage, functional, supply current, VMID output voltage, frequency, DAC distortion
and ADC distortion test. Multiport is implemented in the functional and frequency test.
Result showed both site 1 and site 2 DUT passed all 20 tests. Total execution time is
0.652 second. Mixed signal tests took the longest time (39% of total) because more
setup time is needed. They involve more tester resources than other test. Compared to
normal test suite, multiport-enhanced test suite reduces 71% of vector memory in
Functional (N=32) test and 40% in Functional (N=4) test. In conclusion, multiport
implementation seen improvement in terms of pattern memory. This is advantageous
for tests that contains many vectors in the pattern. Great reduction of vector memory
will see the effect of shorter test time and lower test cost in overall.
Developing audio codec dual sites test solution using multiport feature of the v93k ate / Tan Zhe Jie