Kerumitan peranti semikonduktor telah semakin meningkat disebabkan perkembangan teknologi. Ini telah mencabar proses pengembangan solusi ujian dalam mengurangkan kos pengeluaran peranti dan pada masa yang sama mengekalkan kualiti peranti. Peningkatan peranti-peranti yang kompleks dan berkelajuan tinggi membawa kepada keperluan peralatan ujian automatik. Tujuan projek ini adalah menggunakan peralatan ujian automatik yang berkelajuan tinggi iaitu peralatan ujian automatik V93000 untuk mengembangkan solusi ujian dua tapak bagi codec suara TLV320AIC10 dan mencirikan ADC PGA codec suara TLV320AIC10. Sebelum mengembangkan solusi ujian bagi codec suara, rancangan ujian harus dibuat untuk memastikan tidak ada langkah yang dilangkaukan. Jumlah 21 ujian dibangunkan dalam Smartest dengan merujuk kepada parameter ujian, pelan ujian dan lembaran data. Ujian ini termasuk ujian kesinambungan, ujian kebocoran, ujian fungsional, ujian semasa bekalan, ujian voltan keluaran Vmid, ujian frekuensi SCLK dan FS, ujian DAC, ujian ADC dan ujian pencirian ADC PGA. Keputusan bagi ujian codec suara tapak 1 dan tapak 2 adalah lulus. Setiap ujian berjaya memperolehi nilai-nilai keputusan dalam had ujian. Gandaan ADC PGA telah berjaya dicirikan juga. Masalah yang dihadapi semasa mengembangkan ujian-ujian telah diselesaikan. Kemahiran pengembangan solusi ujian yang dipelajari melalui projek ini sangat berfaedah dalam mencari pekerjaan masa depan dan berguna dalam industri. Peranti lain boleh diuji dengan menggunakan peralatan ujian automatik Advantest V93000 pada masa akan datang.
_______________________________________________________________________________________________________
The complexity of semiconductor device has increased day by day due to the development of technology. This has challenged test program development process in order to reduce the manufacturing cost at the same time remain quality of the device. The significant increasing of complex and high speed devices lead to the need of high speed tester. The purpose of this project is to use high speed tester Advantest V93000 tester to develop test solution dual sites for audio codec TLV320AIC10 and characterize ADC PGA gain of audio codec TLV320AIC10. Before developing test solution for audio codec, test plan should be created to make sure there is no any step is skipped. Total 21 tests are developed in Smartest by referring to the test parameter, test plan and datasheet. The tests included continuity test, leakage test, functional test, supply current test, Vmid output voltage test, SCLK and FS frequency test, DAC test, ADC test and ADC PGA gain characterization test. Result for the test flow of audio codec site 1 and site 2 are pass. Each test has successfully obtained the result values within the test limits. ADC PGA gain has been successfully characterized also. Problem encountered during developing test suites for every test has been solved and debugged. Test development skill learnt through this project is very advantageous in future job finding and useful in industry. Other devices can be tested using Advantest V93000 tester in future.
Develop audio codec v93k dual sites test solution including adc pga gain characterization tests / Yeow Yi Jia