Uji kaji adalah langkah yang terakhir dalam process pembuatan terutamanya ia
digunakan dalam industri semikonduktor yang memproses litar bersepadu (IC). Kini,
litar bersepadu (IC) mendapat permintaan yang tinggi dan ia sangat berguna dalam
banyak aplikasi seperti computer, kenderaan, peralatan industri dan lain-lain. Oleh itu
ujian IC sangat rumit dan perlu melaksanakan banyak ujian untuk memastikan prestasi
mematuhi spesifikasi dan meningkatkan kos produk. Projek ini merujuk tentang
bagaimana untuk uji IC dalam jalan alternatif untuk memberi faedah kepada industri
semikonduktor kini. Metodologi ini bermula dengan mengkaji dan memahami
lembaran data untuk peranti dibawah ujian (DUT) dan kemudian membuat plan ujian
sebagai garis panduan. Ia sangat penting kerana ia memudahkan untuk melaksanakan
program ujian untuk peranti ini sebagai ujian. Project ini, penguji V93K digunakan
untuk uji DUT selepas ia diletakkan atas penguji dan perisian V93K digunakan
sebagai platform untuk membina program ujian dan berinteraksi antara penguna dan
penguji untuk menguji DUT. Ujian tambahan yang terlibat dalam program ujian
adalah mod ujian digital ulang-alik. Selepas semua ujian selesaikan masalah,
keputusan sepatutnya mendapat semua lulus. Pelaksanaan ujian selari bagi 100ms
dengan 20ms dimana gagal dalam kadar 20% akan beri kesan yang negative dalam
masa ujian pengeluaran dan menyediakan masa ini 20ms untuk urutan program yang
pertama. Secara general, masa ujian bagi teras IP yang sangat lama sepatutnya tidak
kurang 50% bagi keseluruhan masa ujian. Dengan keputusan ini, ia disimpulkan
semua ujian pada DUT akan lulus dengan membezakan keputusan sebenar melalui
program ujian dengan lembaran data bagi DUT. Ia bermaksud keputusan daripda ujian
program (simulasi) adalah hampir sama dengan keputusan dari lembaran data DUT. Ia
boleh mencapai meningkatan dengan mengunakan metodologi yang dicadangkan.
_______________________________________________________________________________________________________
Testing is the final step in manufacturing process especially it used in
semiconductor industry that process the integrated circuit (IC). Nowadays, IC is more
demanding and it is useful in any application such as computer, vehicle, appliance in
industrial and many more. So that, testing the IC is getting complicated and need to do
lot of tests on IC to ensure the performance comply into specification and improve
product cost. For this project is about on how to test the integrated circuit (IC) in
alternative ways to bring benefits to semiconductor industry today. The improved
methodology is started studying and understand the datasheet for DUT and then create
the test plan as a guideline. It is important because it would make easier to do the test
program for this device for testing. In this project, the V93K tester is used to test the
DUT after placing on it and V93K software is used as a platform for developing the
test program and interface between user and tester for testing the DUT. The additional
test is involved in test program is digital loop-back test mode. After all tests are
debugged, the result should get all pass in dual sites. The parallel test execution of a
100ms with a 20ms which fails at rate of 20% will effect negatively the production
test time and provide that the 20ms was the first to be test in sequence program. In
general, the test time of the slowest IP core should be less than 50% of the overall test
time. With these results, it is deduced that all tests on DUT will be passed when
comparing the actual results from test program with the DUT datasheet. It means the
results from test program (simulation) are almost same with the results from DUT
datasheet. It can be achieving the improvement by using proposed methodology.
Developing tlv320a1c10 v93k dual sites test solution including digital loop-back test mode / Mohamad Nizam Othman