Parameter S (S-parameter) adalah penting untuk dinilai untuk memastikan prototaip boleh
direka mengikut spesifikasi. Pelbagai kaedah penentukuran telah digunakan untuk
penganalisis rangkaian untuk mendapatkan parameter S, seperti pendek-buka-beban-terusan
(SOLT) dan terusan-pantulan-bebanan (TRL). Substrat bersepadu pandu gelombang (SIW)
menunjukkan kehilangan yang rendah, saiz padat, dan kemudahan untuk integrasi dengan litar
planar. Dalam kajian ini, penentukuran MTRL dicadangkan untuk meramalkan lapisan tunggal
dan pelbagai lapisan SIW. Parameter S bagi prototaip diukur oleh MTRL kit dicadangkan dan
dibandingkan dengan kit komersial SOLT, dan disahkan oleh keputusan FE. Lima parameter
reka bentuk yang berlainan bagi prototaip SIW lapisan tunggal dan satu pelbagai lapisan SIW
dengan slot segi empat telah diukur dan dianalisis. Hasil perbandingan antara model MTRL,
SOLT dan FE untuk satu lapisan SIW dibincangkan dan dianalisis. Penentukuran MTRL pada
satu lapisan SIW menunjukkan sisihan 0% - 5.0% dari frekuensi pusat, jalur lebar operasi yang
lebih besar dan kehilangan sisipan yang lebih dekat dengan model FE. Selain itu, persetujuan
yang baik dicapai antara model FE dan keputusan percubaan menggunakan penentukuran
MTRL untuk dwilapisan SIW dengan slot segi empat. Model dwiapisan SIW menunjukkan
empat frekuensi resonan yang berbeza dengan kehilangan sisipan 2.71 dB. Pengukuran yang
diperoleh menggunakan kaedah SOLT memaparkan tiga kekerapan resonans yang berbeza
dengan kehilangan sisipan 3.41 dB. Sebaliknya, pengukuran yang diperoleh menggunakan
penentukuran MTRL memaparkan empat frekuensi resonan yang berlainan dan kehilangan
sisipan 2.87 dB. Berdasarkan penemuan ini, kalibrasi MTRL meramalkan lebih tepat berkaitan
dengan SIW tunggal dan multi lapisan dengan kekerapan resonan yang hampir dan kehilangan
sisipan yang rendah berbanding dengan kaedah SOLT.
__________________________________________________________________________________
Scattering-parameters (S-parameters) are important to be evaluated in order to ascertain the
hardware prototype can be designed according to the specifications. Various calibration
methods have been applied to the network analyser to obtain the S-parameters, such as shortopen-
load-thru (SOLT) and thru-reflect-line (TRL). Substrate integrated waveguide (SIW)
demonstrates low loss, compact size, and ease for integration with the planar circuits. In this
research, MTRL calibration is proposed to predict the single- and multilayer- SIW. The
analytical modelling of MTRL calibration, and the FE models of the prototypes are discussed
and simulated. The S-parameters, such as insertion loss, bandwidth, and resonant frequency,
can be measured in the frequency range of 8.0 GHz – 13.0 GHz. The S-parameters of the
prototype are measured by the proposed MTRL kits and compared with commercial SOLT
kits, and validated by FE results. The comparison results between MTRL, SOLT and FE
models for single layer SIW are discussed and analysed. MTRL calibration on single layer
SIW shows deviation of 0 % - 5.0 % of centre frequency, larger operating bandwidth and
closer insertion loss with respect to FE models. Moreover, a good agreement is achieved
between the FE model and experimental results using MTRL calibration for double layer SIW
with rectangular slot. A finite model of double layer SIW with rectangular slot shows four
different resonant frequencies with 2.71 dB insertion loss. The measurement obtained using
the SOLT method displays three different resonant frequencies with 3.41 dB insertion loss. In
contrast, the measurement obtained using MTRL calibration displays four different resonant
frequencies and 2.87 dB insertion loss. Based on these findings, MTRL calibration predicts
more accurately pertaining to single- and multi- layer SIW with close resonant frequencies and
low insertion loss as compared with that of the SOLT method.
Thru-reflect-line (trl) calibration on multilayer substrate integrated waveguide (siw) for x-band frequency range_Cha Hong Ye_E3_2017_MYMY