Litar penguji yang direka bentuk untuk projek ini merangkumi litar bekalan
kuasa, litar pincangan arus terus, litar jam dan juga litar pengesan keluaran digital yang
digunakan untuk menguji ciri litar bersepadu ADC. Laporan ini mengandungi teori,
pernyataan masaalah, penyelesaian kepada masaalah, langkah-langkah pengujian,
keputusan serta rumusan berkaitan projek yang dibuat. Secara spesifik, projek ini
memfokus kepada mereka bentuk dan membina litar penguji untuk mengenalpasti ciri
statik litar bersepadu ADC 40 pin yang baru direkabentuk. Litar penguji dibina untuk
menyediakan penyelesaian yang lebih murah untuk menguji IC. Bekalan voltan bernilai
3.3V diperlukan untuk memastikan ADC IC beroperasi. Voltan pincangan yang
mempunyai empat nilai voltan yang berbeza juga diperlukan untuk proses pengujian.
Voltan tersebut yang digunakan untuk memincang transistor dalam ADC (yang diwakili
oleh BIAS1, BIAS2, BIAS3, BIAS4 and BIAS) disediakan oleh blok pincangan voltan
arus terus yang direkabentuk bersama litar penguji ini. Selain untuk tujuan pincangan
transistor, litar pincangan ini juga turut menyediakan voltan rujukan 1.2V kepada
pin ππ πΈπΉ dan ππΆπ . Rekabentuk untuk kedua-dua litar iaitu litar bekalan kuasa dan litar
pincangan arus terus mesti dibuat dengan teliti untuk mengelakkan sebarang gangguan
baru dan menyediakan voltan rendah hingar yang sangat diperlukan bagi kejayaan
pengujian ADC. Litar jam luaran yang disambung ke 16 pin ADC yang lain juga
diperlukan bagi menyediakan denyut untuk pengujian ADC. Akhir sekali proses
pengujian ADC menghendaki pelbagai nilai voltan dimasukkan ke pin ππΌπ+ dan ππΌπβ
ADC tersebut. Keluaran digital proses pengujian dipertunjukkan oleh osiloskop digit.
_____________________________________________________________________________________
A test circuit designed in this project consists of power supply circuit, dc biasing
circuit, clock circuit and digital oscilloscope to test the characteristic of an ADC IC. A
theory, problem statement, solution to the problem, procedures of testing, result and
conclusion for the project are included in this report. Specifically the project focused on
the designing and building of a test circuit to define the static characteristics of the
newly designed 40 pins pipelined ADC IC. The test circuit is designed to provide a
cheaper solution to test the IC. A dc voltage supply of 3.3V is required to power up the
ADC IC (ππ·π· pin). The biasing voltage of five different values is also necessary for the
testing of the IC. These voltages are used to bias the transistors in the ADC IC
(represented by BIAS1, BIAS2, BIAS3, BIAS4 and BIAS 5) are provided by the dc
biasing block also designed together with this test circuit. Other then biasing the
transistor, the biasing circuit also provides reference voltage of 1.2V to the ππ πΈπΉ and
ππΆπ pins. Both designs; the power supply circuit and biasing circuit must be done
properly in order to hinder new interruption and produce a low noise voltage supply
critically required for the successful testing of the IC. An external clock circuit is also
necessary to provide pulse supply to another 16 pins of the IC. Finally to do the testing
for the static characteristic of ADC, various dc voltages is fed to ππΌπ+ and ππΌπβ pin of
the IC. The digital output word is displayed by the digital oscilloscope.
power supply circuit, dc biasingcircuit, clock circuit and digital oscilloscope to test the characteristic of an ADC IC; dc biasing block also designed together with this test circuit; biasing the
transistor, the biasing circuit also provides reference voltage of 1.2V to the ππ πΈπΉ and
ππΆπ pins. Both designs; the power supply circuit and biasing circuit must be done
properly in order to hinder new interruption and produce a low noise voltage supply
critically required for the successful testing of the IC
Test circuit for adc ic testing_Khadijah Binti Hasbullah_E3_2010_875003595_00003084287_NI