Thumbnail | Name | Publication Date
![]() | First Public Date | Contributors |
Scan test coverage improvement via automatic test pattern generation (atpg) tool configuration / Muhammad Redzwan Bin Salehuddin Penambahbaikan liputan ujian scan dengan menggunakan konfigurasi peralatan penjanaan corak ujian automatik (ATPG) dikaji. Meningkatkan liputan ujian adalah penting dalam mengesan kerosakan pengilangan dalam industri semikonduktor supaya produk yang berkualiti tinggi boleh dibekalkan kepada pengguna. Peralatan ATPG yang digunakan adalah Mentor Graph... | 4/30/2018 | 8/1/2017 | Muhammad Redzwan, Salehuddin | |
Study on thermal analysis, microstructure and shear strength of Low-Ag SnAgCu solder alloy / Mohd Syahir Borhanuddin Pateri dengan komposisi Sn-Ag-Cu telah dikaji dengan meluas, di mana kajian tertumpu pada komposisi berhampiran titik eutektik dalam sistem aloi Sn-Ag-Cu yang mempunyai kandungan logam perak lebih tinggi dari 3.0 % berat. Walaupun begitu, penggunaan logam berharga, Perak (Ag) telah menyebabkan kos bahan yang lebih tinggi. Selain itu, pembentukan in... | 10/24/2017 | 7/1/2014 | Mohd Syahir Borhanuddin |