Thumbnail | Name | Publication Date | First Public Date | Contributors |
Quantitative analysis and mapping of concrete scanning electron microscope (sem) images Penilaian mikrostruktural bahan-bahan simen kompleks telah dimungkinkan oleh pencitraan mikroskopik seperti Mikroskop Pengimbasan Elektron (SEM) dan Mikroanalisis X-Ray. Khususnya, penggunaan pengimejan SEM konkrit dan analisis imej digital telah menjadi biasa dalam analisis dan pemetaan teknologi konkrit sama ada secara kualitatif atau kuantitatif... | 8/3/2018 | 6/1/2018 | Elly Nur Myaisara Maizul - Author |